新唐推出KA85010UA第6代26串EIS功能电池管理芯片

日本京都2026年9月29日 /美通社/ -- 新唐科技日本股份有限公司（以下简称"NTCJ"）于9月29日宣布，将于2027年1月开始提供搭载EIS功能的26串电池管理芯片"KA85010UA"样品。

与传统方法相比，本公司自主研发的电感法可将EIS测量期间的PCB温升降低约93%，从而实现电池劣化诊断、寿命预测以及电芯异常征兆的早期检测。此外，NTCJ还提供EIS分析算法，支持客户将相关功能集成到实际应用中。

主视觉：https://cdn.kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M108245/202609176157/_prw_PI1fl_nk51DWnH.png

图片：https://cdn.kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M108245/202609176157/_prw_PI2fl_QiCl1nS4.png

本产品除具备电池管理功能外，还将基于EIS的阻抗测量功能集成于单颗芯片中。EIS是一种向电池施加交流电流，并根据由此产生的电压和电流响应计算阻抗的技术。无需以往所需的专用测量设备，即可在系统内部实施EIS测量，实现对电池内部状态的持续监测与诊断。

通过定量评估仅凭传统电压、电流和温度测量难以判断的电池内部状态，EIS可用于SOH估算、内部温度推算、电池寿命预测以及电芯异常征兆的早期检测，从而提升汽车及储能系统中的电池安全性。

图1：https://cdn.kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M108245/202609176157/_prw_PI3fl_ykSZBCV1.png

本产品采用本公司自主研发的电感法取代传统电阻法，从而显著降低能量损耗。经本公司评测确认，与传统电阻法相比，功率损耗和PCB温升均可降低约93%（图2、图3）。

这种低功耗、低发热特性有利于EIS功能在汽车电池及储能系统中的实际应用。同时，还能够在运行、充电及静置等各种状态下稳定获取EIS测量数据，为更先进的电池状态监测与诊断提供支持。

图2：https://cdn.kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M108245/202609176157/_prw_PI4fl_Dx245Ttn.png

图3：https://cdn.kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M108245/202609176157/_prw_PI5fl_Eq73rE80.png

依托与汽车制造商及研究机构开展联合验证所积累的EIS数据分析经验，NTCJ提供从EIS测量环境搭建，到估算功能和异常检测功能的实现，再到应用集成的一站式支持（图4）。

即使是刚开始采用EIS功能的客户，也能借助该支持更轻松地构建电池诊断系统并缩短开发周期。

图4：https://cdn.kyodonewsprwire.jp/prwfile/release/M108245/202609176157/_prw_PI6fl_m1fCt0nW.png

产品详情请见：https://nuvoton.co.jp/semi-spt/apl/rd/?id=1100-0446

官方网站：https://www.nuvoton.co.jp/en/

声明： 本网站原创内容，如需转载，请注明出处；本网站转载内容（文章、图片、视频等资料）的版权归原网站所有。如我们转载或使用了您的文章或图片等资料的，未能及时和您沟通确认的，请第一时间通知我们，以便我们第一时间采取相应措施，避免给双方造成不必要的经济损失或其他侵权责任。如您未通知我们，我们有权利免于承担任何责任。 我们的联系邮箱：news@cecb2b.com。